亚洲AV成人片无码网站玉蒲团,男人10处有痣是富贵痣,AV亚洲欧洲日产国码无码苍井空,日韩午夜欧美精品一二三四区

KTIMES TECHNOLOGY LIMITED

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置:KTIMES TECHNOLOGY LIMITED>>材料表征與鑒定>>紅外>> Nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜儀

納米傅里葉紅外光譜儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):Nano-FTIR

品       牌:其他品牌

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:上海市

收藏
舉報(bào) 評(píng)價(jià)

更新時(shí)間:2024-08-19 19:00:11瀏覽次數(shù):9510次

聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)
價(jià)格區(qū)間 200萬(wàn)-500萬(wàn) 儀器類型 實(shí)驗(yàn)室型
儀器種類 傅立葉變換型(FT) 應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦
納米傅里葉紅外光譜儀
現(xiàn)代化學(xué)的一大科研難題是如何實(shí)現(xiàn)在納米尺度下對(duì)材料進(jìn)行無(wú)損化學(xué)成分鑒定。現(xiàn)有的一些高分辨成像技術(shù),如電鏡或掃描探針顯微鏡等,在一定程度上可以有限的解決這一問(wèn)題,但是這些技術(shù)本身的化學(xué)敏感度太低,已經(jīng)無(wú)法滿足現(xiàn)代化學(xué)納米分析的要求。而另一方面,紅外光譜具有很高的化學(xué)敏感度,但是其空間分辨率卻由于受到二分之一波長(zhǎng)的衍射極限限制,只能達(dá)到微米級(jí)別,因此也無(wú)法進(jìn)行納米級(jí)別的化學(xué)鑒定。

納米傅里葉紅外光譜儀

------具有10nm空間分辨率的納米級(jí)紅外光譜儀

現(xiàn)代化學(xué)的一大科研難題是如何實(shí)現(xiàn)在納米尺度下對(duì)材料進(jìn)行無(wú)損化學(xué)成分鑒定。現(xiàn)有的一些高分辨成像技術(shù),如電鏡或掃描探針顯微鏡等,在一定程度上可以有限的解決這一問(wèn)題,但是這些技術(shù)本身的化學(xué)敏感度太低,已經(jīng)無(wú)法滿足現(xiàn)代化學(xué)納米分析的要求。而另一方面,紅外光譜具有很高的化學(xué)敏感度,但是其空間分辨率卻由于受到二分之一波長(zhǎng)的衍射極限限制,只能達(dá)到微米級(jí)別,因此也無(wú)法進(jìn)行納米級(jí)別的化學(xué)鑒定。 

    近期neaspec公司利用其*的散射型近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)發(fā)展出來(lái)的nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜技術(shù)使得納米尺度化學(xué)鑒定和成像成為可能。這一技術(shù)綜合了原子力顯微鏡的高空間分辨率,和傅里葉紅外光譜的高化學(xué)敏感度,因此可以在納米尺度下實(shí)現(xiàn)對(duì)幾乎所有材料的化學(xué)分辨。因而,現(xiàn)代化學(xué)分析的納米新時(shí)代從此開(kāi)始。 

散射型近場(chǎng)技術(shù)通過(guò)干涉性探測(cè)針尖掃描樣品表面時(shí)的反向散射光,同時(shí)得到近場(chǎng)信號(hào)的光強(qiáng)和相位信號(hào)。當(dāng)使用寬波紅外激光照射AFM針尖時(shí),即可獲得針尖下方10nm區(qū)域內(nèi)的紅外光譜,即nano-FTIR.

納米傅里葉紅外光譜儀

在不使用任何模型矯正的條件下,nano-FTIR獲得的近場(chǎng)吸收光譜所體現(xiàn)的分子指紋特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*(如下圖),這在基礎(chǔ)研究和實(shí)際應(yīng)用方面都具有重要意義,因?yàn)檠芯空呖梢詫ano-FTIR光譜與已經(jīng)廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,從而實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的進(jìn)行納米尺度下的材料化學(xué)分析。對(duì)化學(xué)成分的高敏感度與超高的空間分辨率的結(jié)合,使得nano-FTIR成為納米分析的*工具。

 

應(yīng)用案例:

 對(duì)納米尺度污染物的化學(xué)鑒定

AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體(暗色區(qū)域B)與PMMA薄膜(A)之間可以觀察到一個(gè)小的污染物。機(jī)械相位圖像中(中),對(duì)比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質(zhì)。將點(diǎn)A和B的nano-FTIR 吸收光譜(右),與標(biāo)準(zhǔn)紅外光譜數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)比, 獲得各部分物質(zhì)的化學(xué)成分信息. 每條譜線的采集時(shí)間為7min

    nano-FTIR 可以應(yīng)用到對(duì)納米尺度樣品污染物的化學(xué)鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖,其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個(gè)100nm尺寸的污染物,但是其化學(xué)成分無(wú)法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學(xué)成分。通過(guò)對(duì)nano-FTIR獲得的吸收譜線與標(biāo)準(zhǔn)FTIR數(shù)據(jù)庫(kù)中譜線進(jìn)行比對(duì),可以確定污染物為PDMS顆粒。 

技術(shù)參數(shù)配置: 

■  反射式 AFM-針尖照明
■  標(biāo)準(zhǔn)光譜分辨率: 6.4/cm-1
■  無(wú)背景探測(cè)技術(shù)
■  基于優(yōu)化的傅里葉變換光譜儀
■  采集速率: Up to 3 spectra /s

■  高性能近場(chǎng)光譜顯微優(yōu)化的探測(cè)模塊
■  可升級(jí)光譜分辨率:3.2/cm-1
■  適合探測(cè)區(qū)間:可見(jiàn),紅外(0.5 – 20 µm)
■  包括可更換分束器基座
■  適用于同步輻射紅外光源 NEW!!!

同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

納米傅里葉紅外光譜儀

型號(hào):Nano-FTIR 參考價(jià): ¥面議
熱門推薦

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話 產(chǎn)品分類
在線留言